《电子产品可靠性与环境试验》期刊介绍：
《电子产品可靠性与环境试验》杂志是由中华人民共和国新闻出版总署、正式批准公开发行的优秀学术期刊，电子产品可靠性与环境试验杂志具有正规的双刊号，其中国内统一刊号：44-/TN，国际刊号：-，属于正规学术期刊。电子产品可靠性与环境试验杂志社由工业和信息化部电子第五研究所主办，本刊为双月刊，创刊时间为年，出版地为广东省广州市。自创刊以来，电子产品可靠性与环境试验编辑部严格遵守学术出版管理条例，努力办好刊物。电子产品可靠性与环境试验杂志社可以用于正常评审职称、自主招生、考研保研、加分晋升，均有效！电子产品可靠性与环境试验投稿期刊征稿论文发表都可以联系！省级，国家级，核心期刊版面费便宜审稿快，通过率高。
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《电子产品可靠性与环境试验》杂志属于信息科技专辑中的无线电电子学专题，欢迎作者参考投稿。
《电子产品可靠性与环境试验》期刊信息：
主办单位：工业和信息化部电子第五研究所
出版周期：双月刊
国际刊号：ISSN-
国内刊号：CN44-/TN
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